Курс "Методи нормування метрологічних характеристик вимірювальних інформаційних систем" призначений для студентів спеціальності 175 "Інформаційно-вимірювальні технології" другого магістерського рівня.
Мета вивчення навчальної дисципліни є отримання знань щодо нормування, визначення та встановлення вимог до метрологічних характеристик вимірювальних інформаційних систем, зокрема отримання навичок математичного опрацювання результатів вимірювань з урахуванням різноманітних факторів, що чинять вплив на результат вимірювання, структури і характеристик самої вимірювальної інформаційної системи.
Предметом вивчення навчальної дисципліни є вимірювальні інформаційні системи і їх складові, нормування та методи розрахунку метрологічних характеристик вимірювальних систем.
Основними завданнями вивчення навчальної дисципліни є:
- формування понятійного апарату нормування метрологічних характеристик вимірювальних інформаційних системи та їх складових;
- придбання необхідних навичок оцінювання метрологічних характеристик вимірювальних інформаційних системи та їх складових.
Викладач: к.т.н., доц. Медведовська Яна Сергіївна
- Викладач: Яна Медведовська
немає