Методи нормування метрологічних характеристик вимірювальних інформаційних систем (ММ-51)

Курс "Методи нормування метрологічних характеристик вимірювальних інформаційних систем" призначений для студентів спеціальності 175 "Інформаційно-вимірювальні технології" другого  магістерського рівня.

Мета вивчення навчальної дисципліни  є отримання знань щодо нормування, визначення та встановлення вимог до метрологічних характеристик вимірювальних інформаційних систем, зокрема отримання навичок математичного опрацювання результатів вимірювань з урахуванням різноманітних факторів, що чинять вплив на результат вимірювання, структури і характеристик самої вимірювальної інформаційної системи.

Предметом вивчення навчальної дисципліни є вимірювальні інформаційні системи і їх складові, нормування та методи розрахунку метрологічних характеристик вимірювальних систем.

Основними завданнями вивчення навчальної дисципліни є:

• формування понятійного апарату нормування метрологічних характеристик вимірювальних інформаційних системи та їх складових;
• придбання необхідних навичок оцінювання метрологічних характеристик вимірювальних інформаційних системи та їх складових.

Викладач: к.т.н., доц. Медведовська Яна Сергіївна